您好,歡迎進入丹東通達科技有限公司網(wǎng)站!
桌面型X射線衍射儀利用X射線與晶體相互作用原理,通過測量衍射圖案來分析材料的晶體結(jié)構(gòu)、相組成及晶粒特性。該儀器采用高精度θ-θ立式測角儀與先進的探測器技術(shù),確保數(shù)據(jù)的高分辨率與準確性。同時,內(nèi)置的分析軟件可實現(xiàn)一鍵式操作與自動化數(shù)據(jù)分析,簡化實驗流程。桌面型X射線衍射儀在實際使用...
使用XRD衍射分析儀進行物相鑒定時,需要掌握一些關(guān)鍵的技巧以確保結(jié)果的準確性和可靠性。以下是一些詳細的技巧和建議:一、樣品制備1.樣品選擇:-選擇具有代表性、均勻且未受污染的樣品。-根據(jù)樣品的性質(zhì)選擇合適的制備方法,如塊狀、粉末狀或薄膜狀樣品。2.樣品處理:-對于塊狀樣品,需進行磨平、拋光和清洗,去除表面的氧化膜和雜質(zhì)。-粉末樣品需研磨至細小顆粒,晶粒大小最好在320目粒度(約40μm)的數(shù)量級內(nèi),并確保體積中有足夠多數(shù)目的晶粒。-薄膜樣品需確保其厚度大于20nm,并在測試前...
X射線晶體分析儀是一種利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的效應(yīng),對物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分進行分析的儀器。隨著技術(shù)的不斷完善和應(yīng)用領(lǐng)域的不斷拓寬,X射線晶體分析儀在多個領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。1.材料科學(xué):X射線晶體分析儀在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用尤為廣泛。它可以用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、相變行為、應(yīng)力狀態(tài)等。通過分析材料的衍射花樣,可以得到材料的晶體結(jié)構(gòu)信息,進一步了解材料的物理和化學(xué)性質(zhì)。這對于新材料的研發(fā)、材料性能的優(yōu)化以及材料質(zhì)量的控制都具有重要意義。2.化學(xué):在化學(xué)領(lǐng)域,X射線晶體分析儀可...
為了優(yōu)化單晶衍射儀的使用以提高數(shù)據(jù)質(zhì)量,可以從以下幾個方面進行考慮和操作:一、確保晶體質(zhì)量1.晶體質(zhì)量是單晶衍射測試的基礎(chǔ)。應(yīng)確保晶體規(guī)則、無明顯裂紋,且尺寸不小于20微米。2.選擇完整的單晶體進行測試,避免使用孿晶或存在明顯缺陷的晶體。3.晶體的三個方向尺寸盡可能相近,以減少衍射吸收的差別。二、選擇合適的靶材靶材的選擇會影響測試的效果和數(shù)據(jù)的準確性。一般來說,含有金屬原子的晶體優(yōu)先選擇鉬靶測試,而純有機物可能選擇銅靶更為合適。三、優(yōu)化實驗條件1.長時間暴露于X射線下可能會損...
桌面型X射線衍射儀的性能可能受到多種因素的影響,這些因素主要包括:一、儀器自身性能1.分辨率緊湊的X射線衍射(XRD)系統(tǒng)通常有一個較小的半徑,X射線管和探測器距離被測樣品更近,影響分辨率。XRD的分辨率由一種合適的XRD標準物(例如NISTSRM660c-鑭六硼化物L(fēng)aB6)衍射峰的半峰寬(FWHM)來確定。FWHM越低,分辨率越高。對于一臺臺式XRD系統(tǒng),優(yōu)異的分辨率應(yīng)小于0.04度2θ的FWHM(FWHMonLaB6<0.04°2θ)。2.測角儀的線性度高線性度的測角儀...
X射線晶體定向儀是利用X射線的衍射原理對晶體材料進行結(jié)構(gòu)分析的重要儀器。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)等領(lǐng)域,用于確定晶體的取向、晶格常數(shù)、缺陷等性質(zhì)。為了確保實驗結(jié)果的準確性和儀器的使用壽命,操作者在使用X射線晶體定向儀時需要注意以下細節(jié):一、安全防護1.個人防護-穿戴防護服:操作人員應(yīng)穿戴符合標準的防護服,以減少X射線對身體的照射。-佩戴防護眼鏡:保護眼睛免受X射線的傷害。-使用防護屏:在儀器周圍設(shè)置防護屏,防止X射線泄露。2.實驗室安全-限制訪問:非授權(quán)人員不得進入...